電壓擊穿測試儀滿足標準：1、GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法》2、GB1408.2-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第2部分：對應用直流電壓試驗的附加要求》3、GB/T1695-2玻璃等介質在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r間的測試。

絕緣材料電壓擊穿試驗機由電腦控制、電子控制系統(tǒng)是通過西門子PLC控制，數(shù)據(jù)采集方式通過光電隔離，有效解決試驗過程中的抗干擾問題，軟件操作使用方便，能夠實時顯示動態(tài)曲線，同時升壓速率無級可調，可以根據(jù)自己的需要進行升壓速率調節(jié)，調節(jié)范圍在10V-5000V/S。使升壓速率真正做到勻速、準確，并能夠準確測出漏電電流的數(shù)值。

電壓擊穿試驗儀配置：本儀器由電腦控制，是我公司自主研發(fā)的全新第二代介電擊穿檢測儀器，本儀器電子控制系統(tǒng)是通過西門子PLC控制，數(shù)據(jù)采集方式通過光電隔離，有效解決試驗過程中的抗干擾問題，軟件操作使用方便，能夠實時顯示動態(tài)曲線，同時升壓速率無級可調，可以根據(jù)自己的需要進行升壓速率調節(jié)，調節(jié)范圍在10V-5000V/S。使升壓速率真正做到勻速、準確。

GHSTZ-522雙電測電四探針方阻電阻率測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精zhun度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

GHSTZ-522山西冠恒半導體電阻率測試儀*本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質量的一種重要優(yōu)良工具。

四探針粉末、半導體電阻率測定儀供應商也可以（選購）自動粉末測試裝置，測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數(shù)據(jù)，輸入儀器后自動計算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求，經濟實惠，功能突出，設計合理，是粉末行業(yè)理想之測試儀器. 提供中文或英文兩種語言操作界面

GHSTZ-522自動型粉末電阻率測試儀采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購.

半導體電阻率測試儀滿足標準：GB/T3048.3-2007電線電纜電性能試驗方法_第03部分：半導電橡塑材料體積電阻率試驗GB/T 15662-1995 導電、防靜電塑料體積電阻率測試方法GB/T 15738-2008 導電和抗靜電纖維增強塑料電阻率試驗方法

陶瓷材料介電常數(shù)及介質損耗測試儀廠家，儀介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），介電常數(shù)及介質損耗測定儀可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因，素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

供應電壓擊穿測試儀滿足標準：1、GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法》2、GB1408.2-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第2部分：對應用直流電壓試驗的附加要求》3、GB/T1695-2玻璃等介質在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r間的測試。