GHT-G-絕緣材料體積表面積電阻率測(cè)試儀
一.GHT-G-絕緣材料體積表面積電阻率測(cè)試儀概況:
(1)適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;EN 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》;GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效);FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》;SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測(cè)通用規(guī)范》6.1及ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。 GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定》;GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》 ;GB/T 1692-2008 《硫化橡膠絕緣電阻率的測(cè)定》;GB/T 12703.4-2010 《紡織品靜電性能的評(píng)定 第4部分:電阻率》
GB/T 10064-2006《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》。
二.適用范圍:
適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。
三.絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀特點(diǎn):
本儀器既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及新的技 術(shù),使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí)直接顯示流過被測(cè)電阻的電流。電阻量程從1×104Ω ~1×1018Ω,電流測(cè)量范圍 為2 ×10-4A ~1 ×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為DC0-1000v無極可調(diào)
四.絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀主要參數(shù):
1.電阻測(cè)量范圍:0.01×104Ω ~1×1018Ω,
2.電流測(cè)量范圍: 2×10-4A~1×10-16A,
3.顯示方式:觸摸屏顯示
4.內(nèi)置測(cè)試電壓:0-1000v
5.基本準(zhǔn)確度:準(zhǔn)確度優(yōu)于國家標(biāo)準(zhǔn)(詳見GBT3048.5-2007標(biāo)準(zhǔn)要求)
量程 | 有效顯示范圍 | 20~30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01~19.99 | 2% |
106 | 0.01~19.99 | 3% |
107 | 0.01~19.99 | 4% |
108 | 0.01~19.99 | 5% |
109 | 0.01~19.99 | 5% |
1010 | 0.01~19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01~19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01~19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01~19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01~19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01~19.99 | 10-15%+5字 |
6.使用環(huán)境: 溫度:0℃~40℃,相對(duì)濕度<80%
7.機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓: 0-1000v 任意切換
8.供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約10W
絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀工作特點(diǎn):
根據(jù)歐姆定律,被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定,通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出,由于電流I是與電阻成反比,而不是成正比,所以電阻的顯示值是非線性的,即電阻無窮大時(shí),電流為零,即表頭的零位處是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí),其電壓V也會(huì)有些變化,所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。
本臺(tái)電阻率測(cè)試儀是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而變,所以,即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大,其測(cè)量精度很高(),從理論上講其誤差可以做到零,而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。
售后服務(wù):
山西冠恒精電儀器設(shè)備有限公司是集專業(yè)設(shè)計(jì)、開發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的技術(shù)股份制企業(yè),專注于新型材料試驗(yàn)機(jī)的研制、材料檢測(cè)技術(shù)的提高及材料試驗(yàn)方法的創(chuàng)新,是國內(nèi)的材料試驗(yàn)檢測(cè)儀器的生產(chǎn)企業(yè)。
我們承諾在接到客戶問題反饋3小時(shí),給出相應(yīng)解決方法、如遇到需要上門服務(wù)時(shí),會(huì)根據(jù)客戶要求上門服務(wù)。本儀器質(zhì)保1年,在質(zhì)保期內(nèi),除人為因素原因,不可抗拒的環(huán)境因素外,維修免費(fèi)。并且可根據(jù)客戶反饋信息進(jìn)行儀器升級(jí),儀器升級(jí)后新老客戶可申請(qǐng)已舊換新業(yè)務(wù),具體電聯(lián)可詳談,本公司對(duì)上訴有*終解釋權(quán)。
影響電阻的因素一.環(huán)境因素的影響環(huán)境因素是指產(chǎn)生點(diǎn)陣畸變的外界條件,主要指溫度和應(yīng)力。(一)溫度的影響若認(rèn)為導(dǎo)電電子是*自由的,而原子的振動(dòng)彼此無關(guān),則電子的平均自由程與晶格振動(dòng)的振幅平方的平均值成反比。由于與溫度成正比,所以ρ∝T。在理想完整的晶體中,電子的散射只取決于溫度所造成的點(diǎn)陣動(dòng)畸變,即金屬的電阻取決于離子的熱振動(dòng)。當(dāng)溫度高于時(shí),純金屬的電阻和溫度成正比。(2—9)式中α為電阻溫度系數(shù),過渡族金屬,特別是鐵磁金屬的α值較大,約為10-2數(shù)量級(jí),其它金屬α值均為10-3數(shù)量級(jí);表示溫度變化△T時(shí)ρ的變化。若考慮振動(dòng)原子與導(dǎo)電電子間的相互作用,用量子力學(xué)方法可以獲得低溫下(低于)電阻的表達(dá)式,為(2—10)式中A為系數(shù),為積分變數(shù)。低溫時(shí),積分值趨于常數(shù)124.4,因此,。它類似于比熱容的德拜三次方定律。式(2—11)也稱格留乃申定律。的關(guān)系對(duì)于多數(shù)金屬都適用。對(duì)于過渡族金屬則(n為2.0一5.3)。一般金屬,當(dāng)溫度接近0 K時(shí),仍有殘留電阻。但有些金屬,例如Ti、V、Nb、Zr、Al等,當(dāng)溫度低于某臨界值時(shí)電阻下降為零,它們被稱為超導(dǎo)金屬。金屬溶化時(shí),由于點(diǎn)陣規(guī)律性遭到破壞及原子間結(jié)合力的變化,熔點(diǎn)(Tm)處液態(tài)金屬的電阻比固態(tài)約大一倍。除Ga、Hg、Sb、Bi外,大多數(shù)金屬熔化時(shí)電阻的躍變可通過式(2—11)計(jì)算( )Tm=exp(KtLmTm) (2—11)式中Lm為熔化潛熱(kJ/mol);ρL和ρS分別為Tm處液態(tài)和固態(tài)的電阻率;K1為系數(shù),其值為80kJ-1·mol·K-1。(二)應(yīng)力的影響彈性范圍內(nèi)的單向拉應(yīng)力,能使原子間的距離增大,點(diǎn)陣的動(dòng)畸變?cè)龃螅纱藢?dǎo)致金屬的電阻增大。電阻率與應(yīng)力之間有如下的關(guān)系(2—12)式中ρT為受拉應(yīng)力作用下的電阻率;ρ0為未加負(fù)荷時(shí)的電阻率;αT為應(yīng)力系數(shù);σ為拉應(yīng)力。鐵在室溫下的應(yīng)力系數(shù)αT約為2.11—2.13×10-11Pa-1。壓力對(duì)電阻的影響恰好與拉應(yīng)力相反,由于壓力能使原子間距變小,點(diǎn)陣動(dòng)畸變減小,大多數(shù)金屬在三向壓力(低于1200MPa)的作用下,電阻率都下降,并且有如下的關(guān)系(2—13)式中為三向拉力下的電阻率;為真空下的電阻率;p為壓力;φ為壓力系數(shù),是負(fù)值。二、組織結(jié)構(gòu)的影響組織結(jié)構(gòu)是影響電阻的內(nèi)部因素,金屬及合金的結(jié)構(gòu)取決于塑性形變及熱處理工藝。(一)塑性形變的影響形變使金屬的電阻增大。鋁、鋼、鐵、銀和其它一些金屬在具有顯著的加工硬化時(shí),它們的電阻率增加約2—6%,只有鎢是例外,大量擠壓之后,電阻可增大百分之幾十。金屬經(jīng)過塑性形變使電阻增大的原因是由于形變使點(diǎn)陣產(chǎn)生缺陷和畸變,導(dǎo)致電子波的散射增強(qiáng);此外,冷加工也可能引起原子間的結(jié)合性質(zhì)發(fā)生變化,從而對(duì)電阻產(chǎn)生影響。如果用ρ0表示未經(jīng)加工硬化金屬的電阻率,△ρ表示加工硬化產(chǎn)生的附加電阻率,金屬加工硬化后的電阻率ρ=ρ0+△ρ。從電阻和溫度的關(guān)系可知,當(dāng)溫度降低時(shí)ρ0減小,在0k時(shí)趨近于零。附加電阻△ρ只受加工程度的影響,與溫度無關(guān),即便是溫度為0k時(shí)它仍然存在,故稱為殘留電阻。△ρ/ρ隨溫度降低而增大,所以用低溫測(cè)量電阻的方法研究加工硬化是很合適的。形變金屬的電阻增大與形變量及形變溫度有關(guān)。鉭絲經(jīng)扭轉(zhuǎn)形變,△ρ/ρ0和扭轉(zhuǎn)形變量的關(guān)系如圖2—5所示。于77K和298K測(cè)量的結(jié)果表明,電阻隨形變量增大而增大;并且形變溫度愈低,電阻增加得就愈快。從圖2—5可以看到電阻的變化反映了形變強(qiáng)化的一般規(guī)律。圖2-5 鉭絲電阻的相對(duì)變化和扭轉(zhuǎn)形變的關(guān)系(二)熱處理的影響形變和應(yīng)力都能破壞周期場(chǎng)的規(guī)整性,使電阻增大,若對(duì)加工硬化的金屬進(jìn)行退火,使它產(chǎn)生回復(fù)和再結(jié)晶,電阻就必然下降。例如,純鐵經(jīng)過加工硬化之后,進(jìn)行100℃退火處理,電阻便有明顯地降低。如要進(jìn)行520℃退火,電阻便恢復(fù)到加工前的水平。但當(dāng)退火溫度高于再結(jié)晶溫度時(shí),由于再結(jié)晶生成的新晶粒很細(xì)小,所以晶界較多,晶界是一種面缺陷,因此電阻反而有所增高。